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膜厚仪F3-sX系列 测厚仪 详细摘要: F3-sX系列膜厚仪F3-sX系列膜厚仪能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米,而这种较厚的薄膜与较薄的薄膜相比往往粗糙且均匀度不好;波长选配F3-sX系列使用近...
产品型号:F3-sX系列 所在地: 更新时间:2024-03-07 参考价: 面议 在线留言 -
反射膜厚仪 F50系列 测厚仪 详细摘要: 反射膜厚仪/测厚仪/F50系列自动多点测量成像FilmetricsF50系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度
产品型号:F50系列 所在地: 更新时间:2024-03-05 参考价: 面议 在线留言 -
反射膜厚仪F20系列 测厚仪 详细摘要: 反射膜厚仪/测厚仪/F20系列的台式薄膜厚度测量系统只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率
产品型号:F20系列 所在地: 更新时间:2024-03-03 参考价: 面议 在线留言 -
反射膜厚仪F40系列 测厚仪 详细摘要: 反射膜厚仪/测厚仪/F40系列将您的显微镜变成薄膜测量工具FilmetricsF40系列主要用于测试各种透明半透明的膜厚,可测量小到1微米的光斑
产品型号:F40系列 所在地: 更新时间:2024-03-01 参考价: 面议 在线留言